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東莞市諾展電子儀器有限公司
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回收E5071B 回收二手網(wǎng)絡(luò)分析儀
測量挑戰(zhàn)
是德科技網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠用來表征和測試有源組件，例如放大器、混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器。
它們可輕松進(jìn)行放大器的常規(guī)參數(shù)測量，例如增益、增益和相位壓縮、隔離度、回波損耗和群時延。諧波失真常用于了解放大器的非線性行為，接收機(jī)有時需要工作在與激勵源不同的頻率上。
由于頻率轉(zhuǎn)換器件的輸入頻率和輸出頻率不同，例如混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器，因此，精確地對頻率變換器件進(jìn)行測量具有很大的挑戰(zhàn)性。
用于測量這些器件的網(wǎng)絡(luò)分析儀必須具有頻偏模式（FOM），才能夠勝任測量這種輸入頻率和輸出頻率不相同的器件的任務(wù)。
有時，可能還需要使用其他儀器和信號調(diào)節(jié)器件來進(jìn)行雙音測量、大功率器件測量、噪聲系數(shù)測量、ACP 和 EVM 等其他類型的測量。因此，測量系統(tǒng)變得越來越復(fù)雜或者完成一個放大器的測量需要多個不同的測量工位。
是德科技解決方案
是德科技提供廣泛的使用靈活、價格經(jīng)濟(jì)的測試解決方案，對有源元器件進(jìn)行矢量網(wǎng)絡(luò)分析。Keysight VNA 專為線性和非線性表征而設(shè)計，具有極高的精度。除了高性能優(yōu)勢之外，多款測量應(yīng)用軟件可簡化設(shè)置、縮短測試時間并提高測量精度。
主要特性
– 放大器增益、匹配和隔離：S 參數(shù)測量
– AM-AM 和 AM-PM 轉(zhuǎn)化：功率掃描，信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)
– 大功率/脈沖可配置性：可配置的測試座、大輸出功率、信號源和接收機(jī)衰減器、內(nèi)置脈沖發(fā)生器、外部脈沖發(fā)生器控制、內(nèi)置脈沖調(diào)制器
– 頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換增益/損耗：FOM、信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)、標(biāo)量混頻器校準(zhǔn)
– 頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換相位/群時延：FOM、幅度和相位校準(zhǔn)、矢量混頻器校準(zhǔn)
– LO 驅(qū)動/測量：第二個內(nèi)部信號源、外部射頻源控制、三端口校準(zhǔn)和測量、LO 功率校準(zhǔn)
– 混頻器拓?fù)洌簰呙枭漕l、掃描/固定LO（固定 IF/掃描 IF）、雙級變頻器、配有內(nèi)置 LO 的變頻器
– 精確的信號源輸出功率和絕對功率測量：信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)、功率傳感器失配校正、接收機(jī)電平調(diào)節(jié)
– 諧波失真：FOM、信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)、較低的信號源諧波、接收機(jī)衰減器
– 互調(diào)失真（IMD）：FOM、第二個內(nèi)部信號源、外部信號源控制、內(nèi)置信號合成網(wǎng)絡(luò)、掃描 IMD
– 噪聲系數(shù)測量
– Hot-S22 測量：FOM、第二個內(nèi)置信號源、內(nèi)置信號合成網(wǎng)絡(luò)
– 功率附加效率：直流輸入和/或直流電表控制
– 直流偏置：內(nèi)部直流偏置源/直流源控制/內(nèi)置直流偏置電路
– 非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析（NVNA）：波形分析、X 參數(shù)
校正系統(tǒng)性能
本節(jié)中的規(guī)格適用于測量。
用安捷倫E5070B/E5071B網(wǎng)絡(luò)分析儀制作
具有下列條件：
不應(yīng)用于數(shù)據(jù)的平均化
環(huán)境溫度為23°C±5°C，用較少
超過1°C偏離校準(zhǔn)溫度·響應(yīng)和隔離校準(zhǔn)未被省略
Corrected system performance
The specifications in this section apply for measurements
made with the Agilent E5070B/E5071B network analyzer
with the following conditions:
• No averaging applied to data
• Environmental temperature of 23°C ± 5°C, with less
than 1°C deviation from the calibration temperature
• Response and isolation calibration not omitted
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